粒度粒形檢測儀粒度粒形顆粒測試技術進展
　　
　　粒度粒形檢測儀主要特點：
　　
　　精心設計的進樣裝置易于拆卸、方便清洗
　　
　　專為大顆粒設計的樣品輸送系統(tǒng)無損耗
　　
　　*的光路設計確保聚焦精度，并可消除小顆粒邊緣效應
　　
　　通過高分辨CMOS得到高清晰顆粒圖像
　　
　　粒度粒形檢測儀粒度粒形顆粒測試技術進展
　　
　　近年來粒度粒形顆粒測試技術進展很快，表現(xiàn)在以下幾個方面：
　　
　　1)粒度粒形檢測儀激光粒度測試技術更加成熟，激光衍射/散射技術，現(xiàn)在已經(jīng)成為顆粒測試的主流.其主要特點：測試速度快，重復性好，分辨率高，測試范圍廣得到了進一步的發(fā)揮.激光粒度分析技術zui近幾年的主要進展在于提高分辨率和擴大測量范圍.探測器尺寸增加，附加探頭的使用擴大了測量范圍;多種激光光源的使用、多鏡頭、會聚光路、多量程、可移動樣品窗的使用提高了分辨率，采樣速度的提高則進一步改善了儀器的重復性.目前激光粒度分析儀在技術上，已經(jīng)達到了相當成熟的階段.
　　
　　米氏理論模型可以提高儀器的分辨率，但是需要事先了解被測樣品的折射率和吸收系數(shù)，才可能獲得正確的結果.
　　
　　測試結果的優(yōu)劣不僅取決于測試系統(tǒng)和計算模型，更加取決于樣品的分散狀態(tài).粒度粒形檢測儀對樣品的分散要求是，分散而不分離.儀器廠家應更加注意樣品分散系統(tǒng)設計.盡量避免小顆粒團聚，大顆粒沉降，大小顆粒離析，樣品輸運過程的損耗，外界雜質(zhì)的侵入.對于不同樣品選用不同的分散劑和不同的分散操作應該引起測試者的注意.
　　
　　任何原理的儀器測試范圍都不是可以無限擴展的.靜態(tài)光散射原理的激光粒度分析向納米顆粒的擴展和向毫米方向的擴展極限值得探討.毫米級的顆粒只需光學成像技術就可以輕易解決的測量問題采用激光散射原理則并不是優(yōu)勢所在.