本文介紹了用于原位納米粒度分析的遠(yuǎn)程光纖探頭技術(shù)VASCO Kin^TM。由法國(guó)技術(shù)公司（CORDOUAN Technologies）開發(fā)的VASCO Kin^TM是一款功能的納米粒度分析儀，它利用的單模光纖技術(shù)將DLS測(cè)量導(dǎo)入到你的過程監(jiān)控。創(chuàng)新的光纖遠(yuǎn)程探頭(下文介紹其原理)使VASCO Kin能夠非常簡(jiǎn)單地結(jié)合到你現(xiàn)有的實(shí)驗(yàn)裝置上(如合成反應(yīng)器或小角X光散射SAXS系統(tǒng))，給用戶提供了大的測(cè)量靈活性，以監(jiān)測(cè)和改進(jìn)其工藝過程的顆粒粒度隨時(shí)間或反應(yīng)條件的變化。